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密集光波分复用系统的波长测量技术

时间:2007-1-30栏目:电子信息工程论文

的密集波分复用系统已经商用,所有的波长都落在常规的C带(波段)内(1530-1565nm);它又可分为蓝带和红带。光路间隔已从100GHz(0.8nm)缩小到50GHz(0.4nm)。进一步增加波长数,例如增加到160波以上时将要应用L带(1565-1625nm),即所谓的第4代WDM光通信系统。为了适应波长数不断增加的DWDM系统迅速发展的形势,测量仪表和测量技术也在迎头赶上。例如Ando Electric公司最近推出一系列针对DWDM市场的解决方案。其中有AQ4321A/AQ4321D可调激光源,它不仅光输出功率高,而且波长测量精度高,在1520nm时可达到±0.01nm的测量精度。AQ6317B是测量DWDM系统和部件的高精度、高分辨率的光谱分析仪,它有大的动态范围,并同50GHz光路间隔的L带DWDM系统兼容。还有AQ8423Z光放大器分析仪,它覆盖C带和L带波长,能与AQ6317系统光谱分析仪配套。它可精确地测量噪声指数NF和光链路中光放大器的增益,分隔ASE光噪声和经过光放大器放大的光信号,并能达到最小光路间隔25GHz的最佳效果。当将AQ8423Z与AQ6317B联合使用时可测量多达200个光路的N F图形。最近又推出新的多波长测量仪,一次可完成多达256条光路的波长测量。总之,DWDM系统的测量技术和测试仪表正向着更多波长、更好的波长测量精度和可分辨出更小的光路间隔,即向着能满足未来更高波分密度、更巨大的网络容量的传输设备的要求发展。  


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